| Pealkiri |
Characterization of silicon carbide (SiC) and graphene-based novel semiconductor devices [Võrguteavik] = Ränikarbiidil (SiC) ja grafeenil pōhinevate uudsete pooljuhtstruktuuride karakteriseerimine / Muhammad Haroon Rashid ; [supervisors: Ants Koel, Toomas Rang ; Tallinn University of Technology, School of Information Technologies, Thomas Johann Seebeck Department of Electronics] |
| Autor |
Rashid, Muhammad Haroon, 1990- autor
|
| Ilmunud |
Tallinn : TalTech Press, 2021 |
| Kirjeldus |
1 võrguväljaanne (175 lk. ; pdf) |
|
